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示波器顯示信號隨時間變化的趨勢。示波器主要測量電壓相對于時間的關系。用戶可通過示波器看到信號隨時間的變化。當被測電路產生特定形狀信號時，用戶能用示波器分析被測信號的各種屬性。
數字萬用表可以精確測量直流偏置。數字萬用表用于測量信號的電壓、電流、電阻等。
積分式ADC – 數字萬用表
•使用平均
•減小噪聲和干擾信號
•用于精確DC的測試
非積分式 – 示波器
•逐點測量
•測量更高頻率
•用于顯示信號的波形
示波器測電流有兩種方法。第一種是直接用電流探頭。是德科技提供多種電流探頭，既可以測試直流，也可以測試交流。如果要測量的精度比較高，可以在電流探頭的孔中多放幾圈流過電流的電線。還有一種是將電流轉換為電壓。需要在被測回路中安置一個較大的高精度電阻，用差分探頭測量電阻兩端的電壓，再轉換為電流進行測量。那麼，如何使用差分探頭呢？
差分探頭(Differential Probes)是示波器探頭的一種，差分探頭是利用差分放大原理設計出來的示波器探頭。
單端有源探頭差分探頭
了解差分探頭，也要了解什么是差分信號。差分傳輸是一種信號傳輸的技術，區別于傳統的一根信號線一根地線的做法，差分傳輸在這兩根線上都傳輸信號，這兩個信號的振幅相同，相位相反。
在這兩根線上的傳輸的信號就是差分信號。差分信號是互相參考，而不是參考接地的信號。
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首先，差分信號具有很強的抗干擾能力。當噪聲出現時，由于噪聲是等值且同時作用在兩個信號線上，所以噪聲對兩個信號的影響是一樣的。此時兩個信號之間的差值和沒有干擾時的差值是一樣的，所以差分信號能保持原信號的邏輯值，這就是說的它的抗干擾能力。
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其次，差分信號能有效抑制電磁干擾（EMI）。這是因為兩根線靠得很近，信號幅值相等，所以與地線的耦合電磁場的幅值也相等，但信號極性相反，這就像兩個相同大小但方向相反的矢量，他們會相互抵消，這就是為什么差分信號能有效抑制電磁干擾。
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再者，差分信號的時序定位準確。接收端以兩根線上的信號幅值之差發生正負跳變的點，作為判斷邏輯0/1跳變的點的。這就是為什么我們說差分信號的時序定位準確。
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首先，它需要兩根線，這可能會使布線變得復雜。
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其次，差分走線必須是等長、等寬、緊密靠近、且在同一層面的兩根線。
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探頭帶寬
探頭帶寬是指探頭響應導致輸出幅度下降到70.7%(-3 dB)的頻率。在選擇示波器和示波器探頭時，要認識到帶寬在許多方面影響著測量精度。在幅度測量中，隨著正弦波頻率接近帶寬極限，正弦波的幅度會變得日益衰減。在帶寬極限上，正弦波的幅度會作為實際幅度的70.7% 進行測量。因此，為實現最大的幅度測量精度，必需選擇帶寬比計劃測量的最高頻率波形高幾倍的示波器和探頭。這同樣適用于測量波形上升時間和下降時間。波形轉換沿(如脈沖和方形波邊沿)是由高頻成分組成的。帶寬極限使這些高頻成分發生衰減，導致顯示的轉換慢于實際轉換速度。為精確地測量上升時間和下降時間，使用的測量系統必需使用擁有充足的帶寬，可以保持構成波形上升時間和下降時間的高頻率成份。最常見的情況下，使用測量系統的上升時間時，系統的上升時間一般應該比要測量的上升時間快4-5 倍。在開關電源領域，一般50MHz的帶寬就基本夠用了。
CMRR (共模抑制比)
CMRR共模抑制比是什么意思?
共模抑制比(Common Mode Rejection Ratio，簡寫CMRR，符號為Kcmr，單位是分貝db)是指差分探頭在差分測量中抑制兩個測試點共模信號信號的能力。共模抑制比是差分增益(Ad)和共模增益(Ac)的功率比。它意味著在差動探頭的輸出中會出現多少共模信號。這是差分探頭的關鍵指標。
CMRR共模抑制比公式
其中：Ad = 差分信號的電壓增益。Ac = 共模信號的電壓增益。
在理想情況下，Ad 應該很大，而Ac 則應該等于0，因此CMRR無窮大。在實踐中，10,000:1 的CMRR已經被看作非常好了。這意味著將抑制5V的共模輸入信號，使其在輸出上顯示為0.5毫伏。由于CMRR隨著頻率提高而下降，因此推薦CMRR的頻率與CMRR值一樣重要。CMRR對于測量全橋或者半橋電路的上管驅動波時，顯得尤為重要，這也是高壓差分探頭測量這類信號時的難點。
60Hz 時 80 dB CMRR 是什么意思? 這也就是10000:1的Vout/Vin振幅比，這意味著兩個引線共同的1000V, 60hz正弦波共模噪聲將減少到100 mV (=1000V * 1/10,000)轉移到示波器。
畸變
畸變是輸入信號預計響應或理想響應的任何幅度偏差。在實踐中，在快速波形轉換之間通常會立即發生畸變，其表現為所謂的“減幅振蕩”。差分探頭的兩個差分輸入線非常長，常見的有50cm左右，如果差分探頭這個指標設計不好，那么測量的信號容易產生畸變。市場上不同廠家的差分探頭測出的結果可能不同，有的相差甚遠，這個指標就是其中原因之一。
高壓差分探頭是一種用于電力電氣工程、電子通信技術、航空航天科技的測量儀器，采用專用電源模塊使高壓探頭具有更高的穩定性和較低的噪聲，高精度的高壓探頭內部元件采用極低的溫度系數和電壓系數，可提供很高的測試精度，所有有源高壓差分探頭的輸出阻抗為50，可用于所有示波器和電壓表。
高壓差分探頭
差分探頭主要用于觀測差分信號：差分信號是相互參考、而不是以地作為參考點的信號。普通的單端探頭也可以測量差分信號，但得到的信號與實際信號相差很大，有可能出現“地彈”現象。
高壓差分探頭差分放大原理是指將一對信號同時輸入放大電路，然后減去得到原始信號。差分放大器是通過直接耦合由兩個具有相同參數特性的晶體管組成的放大器。如果在兩個輸入端輸入相同大小、相同相位的信號，則輸出為零，從而克服了零漂移。你可以把任何兩個浮點信號轉換成一個信號到地面，為了提供示波器、儀表或計算機使用，很多電路，特別是電機電路，包括直流補償或交流補償，甚至根本沒有接地電路，此時使用示波器會引起電擊，或損壞示波器，或引起電線火災，此時使用差分探頭才是更好的選擇。
高壓差分探頭具有自動保存功能，可防止用戶停電后重復工作，具有良好的共模噪聲抑制能力，輸入端輸入阻抗高，電容低，可高速準確測量差分電壓信號。
具有聲光報警功能，可手動關閉聲音報警功能，更人性化設計；USB電源接口，使用更加方便靈活；探頭配有標準BNC輸出接口，可與任何廠家的示波器配合使用，測量波形測量電路。
應用指南
探頭放大器和探頭前端的帶寬提升技術
“Keysight 差分探頭經過DSP校正，具有平坦的幅度和相位響應，可提供最高的精度。 選擇校正到的帶寬通常約為3dB的未校正帶寬。 通常，將帶寬擴展到遠遠超過該3dB帶寬頻點將增加本底噪聲，如果進一步加大帶寬，則可能導致不真實的鏡像噪聲信號。”
您是不是沒有充分利用您的差分探頭？
許多人認為只有在探測差分信號時才使用差分探頭。您是否知道，在探測單端信號時，也可以使用差分探頭？這將為您節省大量時間和金錢，并提高測量的準確性。最大限度地利用差分探頭，獲得盡量很好的信號保真度。
差分探頭可以進行與單端探頭相同的測量，并且由于差分探頭在兩個輸入端上有共模抑制，所以差分測量結果的噪聲大為減少。這使您可以看到被測設備信號的更好表示，而不會被探測所增加的隨機噪聲誤導。
請看下圖中的藍色單端測量信號和圖中的紅色差分測量信號。藍色的單端測量結果與紅色的差分測量結果相比，噪聲要多得多，因為單端探頭缺少共模校正功能。
圖 單端測量
圖 差分測量
差分探頭可以執行與單端探頭相同類型的測量，但共模抑制功能使其噪聲明顯降低。
什么是差分測量?
電源測試中大多數電壓測試是浮地測試，需要用差分探頭測試。
很多初級工程師在用多個探頭進行電源測量時，剛開機電源產品就“炸機”，甚至示波器也發生損壞。
這是因為示波器探頭之間是共地的，在同時測量電源原邊和副邊的時候，如果用一根探頭接原邊的地，另一根探頭接副邊的地，相當于把電源的原邊和副邊的地短路在一起，這樣短路后的大電流就會燒壞電源產品和探頭，甚至是損壞示波器。所以，在測試原邊和副邊的電壓時應該一側選用差分探頭，一側選用無源或有源單端探頭。
圖2 差分測量 = 非接地測量
如果您想測量兩點之間的電壓差，但兩點都不“接地”怎么辦？ 您將需要一個沒有“接地”連接的探頭。 這稱為差分探頭。 在這個電路中，中間的電阻兩邊都不為 0V，所以它是“浮動”的，這意味著如果我們使用單端探頭測量它的電壓，電路就會接地—儀器會受到損壞！
你需要一個能很好測量非接地信號的探頭。
差分探頭的主要優點是高的共模噪聲抑制，因為噪聲被同時加到兩根導線上，然后可以被差分放大器的共模抑制濾波掉。
Keysight DP003xA 系列高壓差分有源探頭
Keysight DP003xA 系列高壓差分有源探頭
Keysight Technologies 的 DP003xA 系列高壓差分有源探頭可提供高速功率測量所需的優秀通用差分信號測量，例如測量開關電源設備、DC-DC 轉換器或 D 類放大器的特性、汽車總線測量和高速數字系統設計。隨著設計變得越來越復雜，對浮動測量的需求不斷增長，這些差分探頭可以在電路板上的任意兩點之間進行浮動測量，也可以用作單端探頭，其中一個端子接地。DP003xA 系列差分有源探頭提供帶寬型號，范圍從 25 MHz 到 200 MHz，輸入動態范圍高達 ± 7000 V。
差分探頭
電源測試中大多數電壓測試是浮地測試，需要用差分探頭測試。
很多初級工程師在用多個探頭進行電源測量時，剛開機電源產品就“炸機”，甚至示波器也發生損壞。這是因為示波器探頭之間是共地的，在同時測量電源原邊和副邊的時候，如果用一根探頭接原邊的地，另一根探頭接副邊的地，相當于把電源的原邊和副邊的地短路在一起，這樣短路后的大電流就會燒壞電源產品和探頭，甚至是損壞示波器。所以，在測試原邊和副邊的電壓時應該一側選用差分探頭，一側選用無源或有源單端探頭。
常見的高壓差分探頭共模耐壓與衰減比有關，影響測試結果。
市面上高壓差分探頭存在的問題是共模耐壓會隨著衰減比的變化而變化。
圖4 市面上高壓差分探頭共模耐壓和衰減比
這就給上管Vgs的測試帶來很大的問題，比如某型號差分探頭在100:1的衰減比下差模耐壓和共模耐壓都是700V，非常適合AC轉DC相關拓撲的500V-600V耐壓功率器件Vds電壓測試。
但是，當我們需要測試Vgs電壓的波形時，為了得到更高的測試精度，更小的垂直刻度，需要把衰減比調整到10:1。但在10:1衰減比下，該探頭的共模耐壓會降低到70V，因此不能用于上管Vgs的測試，如果需要測試上管Vgs電壓波形，就只能用100:1，這樣會使Vgs的測試結果誤差非常的大。
大多商用高壓差分探頭帶寬不到 300 MHz，不能滿足測試需求。
隨著電源工作頻率的不斷提高，工程師已經開始采用高頻功率開關和整流器技術。從傳統平面或溝槽MOSFET開關的上升/下降時間為30ns到60ns發展到超結MOSFET、GaN MOSFET、SiC MOSFET和SiC肖特基整流管等功率開關的開關時間不到5ns。為觀察如此快速的信號變化，通常需要足夠帶寬的測量系統。
根據前面對測量系統帶寬的介紹，我們知道帶寬要足夠不僅是示波器的帶寬要足夠，探頭的帶寬也要足夠。多年來示波器發展迅速，當前實時示波器最大帶寬已達到110 GHz帶寬，而示波器探頭一直是測量系統的瓶頸。
所以，一般示波器帶寬不會選錯，基本上來說如果是AC轉DC的硅基MOSFET管，100 MHz的帶寬就夠了。如果是IGBT，需要50 MHz到100 MHz帶寬。對于低壓的MOSFET管（DC轉DC）則需要200MHz帶寬。如果是SiC材料的測試，帶寬一般要200 MHz左右，GaN材料則需要400 MHz的帶寬。
我們前面提到的帶寬的需求，比如 GaN 需要400 MHz帶寬，不是僅僅指示波器的帶寬，而是說整個測量系統的帶寬，包括示波器、探頭、以及延長線。從被測設備到示波器之間的任何一個環節都會影響測試系統的帶寬。所以說，如果我們測試系統需要400MHz的帶寬，那么我們的探頭也至少是 400 MHz 的帶寬。遺憾的是，大多數商用的電壓差分探頭無法在這么高的頻率下工作。
GaN材料MOSFET管測試需要高帶寬高壓差分探頭測試。
圖5 第三代半導體主要應用范圍
GaN 材料主要應用于偏低壓應用例如 800 V 以下的應用，像高功率密度 DC/D C電源的 40V-200V增強性高電子遷移率異質節晶體管（HEMT）和600V HEMT混合串聯開關。當然現在也有800V以上的一些應用也是用GaN材料的。在這些應用中需要選用高壓差分探頭進行測試。
SiC 材料測試中高溫測試需求增多，需要寬溫度范圍的探頭。
SiC材料主要偏向高壓的應用。因其具有承受高溫（300℃左右溫度是沒有問題的）的特點主要應用場景是在汽車和光伏逆變器等領域。這些器件的應用會對整個電源系統有很大的改進。
應用場景不同
普通探頭通常由金屬探針、連接電纜和示波器接口等部分組成。其內阻是指探頭內部對電流流動的阻礙程度，主要由探針的電阻、電纜的電阻以及接口處的接觸電阻等組成。普通探頭內阻一般在幾兆歐姆到幾十兆歐姆。普通探頭在低頻和接地測量中更為普遍，適用于大多數一般性測量應用。
差分探頭通常用于高頻電路和信號處理，以及需要高精度測量的場合。例如高壓差分探頭內阻可達數百兆歐姆以上，因為示波器作為測量儀器，不能給它輸入過大的電壓（一般在示波器的輸入口都會標明該款示波器的最大輸入電壓）。我們都知道，普通探頭的比例為10:1，所以當電壓比較大時，該電壓可能經過10倍衰減后仍大于示波器最大輸入電壓，那么這個時候，為了保護示波器，我們就需要使用高壓差分探頭將大電壓進行100倍或1000倍衰減，再輸入到示波器上。
測量方式不同
普通探頭是單通道測量方式，通過一個探頭前端和一條引線連接到示波器的輸入通道進行測量，適用于單端信號的測量。
差分探頭采用雙通道測量方式，一個通道連接到待測信號的gao端，另一個通道連接到低端，通過計算這兩個點的電壓差來獲取差分信號的信息。這種方式能夠有效消除共模噪聲和干擾信號，提高測量的準確性和可靠性。高壓差分探頭是用于測量高電壓信號和差分電壓信號的，是目前開關電源中常用的工具之一，滿足浮地測量要求和隔離的需要。差分探頭比普通的無源探頭價格高。差分頻率很高，可以達百GHz以上的。差分一般都是隔離的，把測量的信號端與示波器實現有效隔離。
性能特點不同
普通探頭在低頻和接地測量中表現更為出色，但可能在復雜信號和高頻信號測量中存在局限性。
差分探頭具有較高的抗干擾能力和時序定位精度，能夠有效抑制電磁干擾（EMI），并且具有較高的共模抑制比（CMRR），適合測量微弱信號或復雜信號。差分探頭兩根差分走線之間的耦合很好，當外界存在噪聲干擾時，幾乎是同時被耦合到兩條線上，而接收端關心的只是兩信號的差值，所以外界的共模噪聲可以被很大程度抵消。
差分探頭可將任意間的兩點浮接信號，轉換成對地的信號，以供應示波器、電表、或計算機使用。非常多的電路，尤其是電機電路，含有直流抵補(DC OFFSET) 或交流抵補(AC OFFEST)甚至沒有對地回路，此時冒然使用示波器將造成觸電，或損壞示波器，或造成電線走火，此時唯有使用差分探頭才是很好的選擇。
電源系統測試中經常要求測量三相供電中的火線與火線，或者火線與零（中）線的相對電壓差，很多用戶直接使用單端探頭測量兩點電壓，導致探頭燒毀的現象時有發生。這是因為：大多數示波器的“信號公共線”終端與保護性接地系統相連接，通常稱之為“接地”。這樣做的結果是：所有施加到示波器上，以及由示波器提供的信號都具有一個公共的連接點。該公用連接點通常是示波器機殼通過使用交流電源設備電源線中的第三根導線地線，將探頭地線連到一個測試點上。如果這時使用單端探頭測量，那么單端探頭的地線與供電線直接相連，后果必然是短路。這種情況下，我們需要差分探頭進行浮地測量。
過去在使用高帶寬示波器和有源探頭進行測量時，您可以選擇單端探頭，也可以選擇有源差分探頭。
一般是用單端探頭測量單端信號 ( 對地電壓 )，用有源差分探頭測量差分信號 ( 正電壓－負電壓 )。雖然也可以只買差分探頭，用差分探頭測量差分信號和單端信號，但出于一些實際考慮，多數人并不這樣做。理由是，與單端探頭相比，差分探頭通常價格更高和更難以使用，而且帶寬更小。
Keysight In?niiMax 探頭系統既可用于差分檢測，又可用于單端檢測，從而很大程度上排除了過去拒絕使用有源差分探頭的理由。新的探頭系統使用可更換的探頭前端，這些前端特別適用于手動點測、插孔連接和焊入連接等測量方式。
對于這種新的探測方式，您需要確定是用有源差分探頭還是單端探頭測量單端信號。為作出很好的決定，您需要考慮差分探頭與單端探頭在性能和可用性方面的優缺點。
我們將在如下幾方面比較了有源差分探頭和單端探頭的性能和可用性的優缺點 :
– 帶寬、保真度和可用性
– 共模抑制
– 輸入負載
– 測量可重復性
– 物理尺寸
圖 7. 有源差分探頭和單端探頭的簡化模型
我們用簡化模型 ( 圖 7) 幫助比較，并用 Keysight 1134A 7 GHz 探頭放大器配合焊入式差分探頭前端和焊入式單端探頭前端測量數據。這兩種探頭前端的物理連接尺寸非常接近，因此它們的性能差別主要是因為差分和單端電路元件的布局造成的。圖 8 和圖 9 是這些探頭的照片。
為測量探頭性能，我們使用 Keysight E2655C 偏移校正 / 性能驗證夾具、Keysight 矢量網絡分析儀和 Keysight In?niium DCA 采樣示波器。
有源差分探頭和單端探頭的性能帶寬、保真度和可用性比較
如前所述，單端探頭的帶寬通常比有源差分探頭更高。但這一結果是源自某些基本物理定律，還僅僅是源自不同體系結構的實際實現方法？
為回答這一問題，讓我們考慮圖 7 所示的有源差分探頭和單端探頭連接中寄生參數的簡化模型。由于單端和差分探頭前端的幾何尺寸大致相同，因此電感和電容參數的量值也相當。如果接地連接使用又寬又平的導體( 就像“刀片”)，單端探頭的接地電感(lg)會稍低一些，但也低不到哪里去。應注意有源差分探頭在其兩個輸入上都有補償阻尼 (tip resistor)，而單端探頭只在信號輸入上有補償阻尼，地線上沒有阻尼 ( 在實際探頭中是 0 Ω 電阻器 )。這些補償阻尼用于消除輸入連接中電感器 (Ls) 和電容器 (Cs) 所造成的諧振。
從對單端模型的分析，可看到帶寬決定于電感值和電容值，其中對地電感 (lg) 非常重要。
在較高頻率下，對地電感會在器件接地與探頭接地之間產生一個電壓，從而減小探頭衰減器 / 放大器輸入端上的信號。您可通過減小對地電感來增加帶寬。這需要縮短接地線的長度，或增加連接的面積。理想的接地線應是非常短、又比較寬的導體平面或圍繞信號連接的環形圓柱體 ( 形成同軸的探頭連接 )。在實際測量條件下，理想的接地線通常是不存在的，而且會大大降低單端探頭的可用性。
圖 8. Keysight 1134A 單端焊入式探頭前端 ( 上 ) 和差分焊入式探頭前端 ( 下 )
圖 9. 開蓋的單端 ( 上 ) 和差分 ( 下 ) 焊入式 探頭前端
圖 10. 有源差分探頭和單端探頭的頻率響應
此外，給出同軸夾具中的單端探頭的技術指標是沒有用的，因為在實際測試中，您基本上無法采用這種方式來測量。
如果您分析由差分信號 (vcm=0，vp=vm) 驅動的差分模型，就會看到由于正負信號連接的固有對稱性，在連接間就會存在一個沒有凈信號的平面。您可將這個“有效的”地平面視為牢固地接到器件的地平面和探頭放大器的接地端。考慮到有效地平面的存在，即可分析半電路模型，此時信號地的環路面積近似為單端環路面積的一半，所以電感要低得多。從半電路模型分析可以看到，差分模型的帶寬要遠高于單端模型。此外，有效地平面是理想的接地連接，而且毫不影響其可用性。
當有源差分探頭受單端源驅動時，您可用疊加法確定總響應。當 vcm = vp = vm 時，在電路中施加單端信號。對于疊加的第一項，把 vcm“關閉”；對于疊加的第二項，把 vp 和 vm“關閉”。第一項是單端信號差分部分的響應，因此該響應和前面的討論一致。第二項是單端信號共模部分的響應，因此其響應決定于探頭的共模抑制。如果探頭有良好的共模抑制能力，那么對單端信號的總響應就只是對單端信號差模成分的響應。如果探頭的共模抑制不好，就會看到測量差分信號和測量單端信號的響應差異。從圖 10 可以看到，這些響應實際上并無差別。
圖 10 顯示了用有源差分探頭檢測單端信號 ( 綠色 ) 和用單端探頭檢測單端信號 ( 藍色 ) 的頻率響應，兩者都使用同樣的 7 GHz 探頭放大器。探頭的帶寬定義為探頭輸出幅度相對輸入幅度下降到 -3 dB 處的頻率。顯然，有源差分探頭前端的帶寬要比單端探頭前端高得多(7.8 GHz 對 5.4 GHz)。這兩種探頭因為在連接中使用了正確的阻尼電阻，所以都有很高的頻率平坦度。
圖 11 顯示了對于輸入約 100 ps 上升時間的階躍信號，有源差分探頭所測得的時域響應。圖 12 顯示了對于輸入約 100 ps 上升時間的階躍信號，單端探頭所測得的時域響應。在這兩個圖中，紅色軌跡是探頭的輸出，綠色軌跡是探頭的輸入。應注意這不是探頭的階躍響應，而只是測量它們能在多大程度上跟蹤 100 ps 的階躍信號。為測量階躍響應，輸入必須是非常wan mei的、有極快上升時間的階躍信號，此時有源差分探頭能顯示出比單端探頭更快的上升時間。這兩種探頭都能很好地跟蹤 100 ps 的階躍信號。
圖 11. 有源差分探頭測量 100 ps 階躍信號的時域響應
圖 12. 單端探頭測量 100 ps 階躍信號的時域響應
共模抑制是有源差分探頭和單端探頭都存在的問題。對差分探頭來說。共模抑制使加至 + 和 - 探頭輸入的相同信號不產生輸出。對單端探頭來說，共模抑制使加至信號輸入和接地輸入的相同信號不產生輸出。
有源差分探頭和單端探頭模型 ( 圖 12) 顯示了從探頭衰減器 / 放大器接地到“大地”的電阻和電感。這是由探頭電纜屏蔽層和大地構成的傳輸線 ( 或天線 ) 所造成阻抗的簡化模型。這一“外模式”阻抗是非常重要的，因為在單端探頭上施加共模信號時，地電感就與該外模式阻抗構成分壓器，從而衰減了放大器得到的地信號。由于放大器的信號輸入沒有得到與地輸入同樣的衰減，這就在放大器的輸入端造成一個凈信號，并由此產生一個輸出。地電感越高，共模抑制就越低，因此您在使用單端探頭時，務必使地線盡可能短。還應注意該外模式信號并不直接影響“內模式”信號 ( 即同軸電纜內的正常探頭輸出信號 )，但反射的外模式信號將影響探頭放大器的地，從而間接影響內模式信號。“測量可重復性”部分對此有進一步的說明。
當共模信號施加至有源差分探頭時，在 + 和 - 輸入端至衰減器 /放大器上可看到同樣的信號。所產生的輸出將由放大器共模抑制決定，而并非由連接電感造成。
圖 13. 差分探頭和單端探頭的共模響應
當您檢測含有共模噪聲的單端信號時，需要確定是有源差分探頭還是單端探頭有更好的共模抑制能力。這取決于單端探頭的接地連接電感，以及有源差分探頭中放大器的共模抑制能力。對于本例中的差分和單端探頭前端，圖 13 顯示有源差分探頭的共模抑制要比單端探頭高得多，因此在高共模噪聲環境中能夠進行更好的測量。這是兩種探頭最常見的情況，除非單端探頭有極低電感的接地連接，但這在現實中是難以實現的。應注意這里分析的單端探頭，其共模抑制能力遠好于其他許多單端探頭，因為它的地線很短。
圖 13 中的共模響應定義為 :
差分共模響應 = 20[log(voc/vic)]
這里 vic 是 + 和 - 輸入的公共電壓
Voc 是施加 vic 時探頭輸出處的電壓
單端共模響應 = 20[log(voc/vic)]
這里 vic 信號輸入和地輸入的公共電壓
voc 是施加 vic 時探頭輸出處的電壓
圖 14. 有源差分探頭和單端探頭的輸入阻抗
有源差分探頭輸入負載效應比較
如果您用有源差分探頭前端和單端探頭前端的電感和電容值分析圖 13 中的電路模型，您將發現從單端源看過去的各探頭前端輸入阻抗沒有多少差別。分析的另一方面是了解外模式阻抗如何影響差分和單端探頭。在單端探頭放大器模型中，外模式阻抗要比接地連接阻抗高得多 ( 由于存在 lg)，因此它對輸入阻抗并沒有明顯影響。但由于存在外模式阻抗，進入差分探頭的單端信號將看到較高頻率比較低頻率有略低的容抗值。
圖 14 是有源差分探頭和單端探頭的輸入阻抗 ( 幅值 ) 圖。紅色軌跡是施加差分源時所看到的差分探頭阻抗。綠色軌跡是施加單端源時看到的有源差分探頭阻抗，藍色軌跡是施加單端源時看到的單端探頭阻抗。圖 14 中標注了這三種情況的直流電阻、電容和最小電感值。應注意有源差分探頭和單端探頭對單端信號的輸入阻抗很類似。
有源差分探頭和單端探頭的性能測量的可重復性
測量的可重復性是與高頻探頭相關的問題。在理想情況下，探頭位置、電纜位置和手的位置都不應造成探頭測量結果的變化。但許多情況下都并非如此。通常的原因是外模式阻抗的改變。這一阻抗實際上遠比所示的探頭模型復雜，因為探頭、手和電纜位置都會給未經屏蔽的傳輸線 ( 或天線 ) 造成極大的影響。
如果您通過改變外模式阻抗分析單端模型，就會發現它可以導致響應變化。此外，由于外模式阻抗也是共模響應中的一個因素，因此該阻抗的變化也會造成共模抑制的變化。接地連接的阻抗越高，響應的變化就越大。
通過改變外模式阻抗分析差分模型，可以發現這一變化只引起很小的響應變化。在探頭放大器地上出現的任何信號都會受到放大器的共模抑制。因此，由探頭、手和電纜位置引起的響應變化可得到很大的衰減。從圖 10 中可以看到，有源差分探頭的響應要比單端探頭平滑得多。單端探頭響應中有許多由外模式阻抗的變化所造成的“擾動和扭曲”。當阻抗變化時，響應也隨之變化。探頭電纜上的鐵電磁珠能通過衰減和限制外模式信號來減小外模式阻抗的變化量，從而緩解這一問題。它能減小探頭、手和電纜位置造成的響應變化。
有源差分探頭和單端探頭的性能物理尺寸考慮
通過前面對有源差分探頭和單端探頭的比較，可以看到不管是檢測差分信號，還是檢測單端信號，有源差分探頭在各方面的性能都優于單端探頭。但有時仍可考慮使用單端探頭。單端探頭在許多測量情況下能夠提供可接受的結果，此外價格較低，而且由于探頭前端較為簡單，因而體積也較小。從物理上考慮，小探頭能伸入到狹窄的地方進行探測，也能把多個探頭接到非常密集的被測點。因此在一個探測系統中，探頭很好是既能作差分檢測，又能作單端檢測。
